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开关元件的可靠性问题:

   元器件可靠性问题即基本失效率的问题,这是一种随机性质的失效,与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。KE拨码开关在一定的应力水平下,元器件的 失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,这是一种非破 坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1~2个数量级,当然筛选试验代价(时间与费用)很大,但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的,研制周期也 不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求:

  ①电阻在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。

  ②普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。

  ③接插件按技术条件抽样检测各种参数。

  ④半导体器件按以下程序进行筛选:

  目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试

  筛选结束后应计算剔除率Q

  Q=(n / N)×100%

  式中:N——受试样品总数;

  n——被剔除的样品数;

  如果Q超过标准规定的上限值,则本批元器件全部不准上机,并按有关规定处理。

  在符合标准规定时,KE则将筛选合格的元器件打漆点标注,然后入专用库房供装机使用。

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